日前，奧地利微電子在北京宣布，推出采用DAEC（動態(tài)角度誤差補償）技術(shù)的AS5047D、AS5147和AS5247磁性位置傳感器。適于電機控制和角度位置測量。

　　AS5047D面向機器人和編碼器模塊應(yīng)用。AS5147/5247均符合AEC-Q100認證，面向汽車轉(zhuǎn)向、傳動、剎車制動器、引擎進氣閥等應(yīng)用。其中5247是互為備份的雙芯片結(jié)構(gòu)，可滿足功能安全更高的要求。

　　傳統(tǒng)磁性旋轉(zhuǎn)位置傳感器芯片需要將其嵌入式磁性元件中磁場強度的原始測量信息轉(zhuǎn)換為數(shù)字角度測量結(jié)果，這樣會導(dǎo)致傳播延遲。延遲期間，由于離心器的角位移發(fā)生變化，當數(shù)字輸出時，其實際位置與傳感器所測量的位置將會產(chǎn)生誤差。

　　奧地利微電子高級市場經(jīng)理Oliver Weber表示，正在申請的DAEC專利技術(shù)可消除由100～200s傳播延遲導(dǎo)致的測量誤差，將動態(tài)角度誤差幾乎降低至零（見圖1）。

　　圖1 DAEC專利技術(shù)可消除由100～200s傳播延遲導(dǎo)致的測量誤差，將動態(tài)角度誤差幾乎降低至零。

　　在高速無刷直流電機（BLDC）和永磁同步電機（PMSM）中，47系列傳感器芯片的高精度有助于換相控制方案的實施，提高轉(zhuǎn)矩和效率，降低轉(zhuǎn)矩脈動。

　　AS5047D、AS5147和AS5247有絕對位置測量的PWM輸出；磁場定向控制的換相方案所需的UVW輸出；及相當于一個光學(xué)編碼器輸出的增量ABI輸出，不用改變主機系統(tǒng)的MCU或DSP的軟件接口，AS5047D芯片即可取代光學(xué)編碼器。

　　上述誤差會隨著轉(zhuǎn)速增加呈線性增長。例如，對于100s的傳播延遲，在1000rpm轉(zhuǎn)速下，其動態(tài)角度誤差為1.2°，而10000rpm轉(zhuǎn)速下的誤差將高達12°。

　　DAEC技術(shù)的獨特算法能動態(tài)地補償每個測量樣本被捕捉時的轉(zhuǎn)速。例如，在7000rpm轉(zhuǎn)速下，47系列磁性位置傳感器的角度測量誤差為0.08°，12000rpm轉(zhuǎn)速下的誤差為0.14°，14500rpm轉(zhuǎn)速下的誤差不到0.17°（不含非線性積分）。

　　數(shù)字SPI輸出提供14位高分辨率（0.022°），及十進制模式中2000步/轉(zhuǎn)的最高分辨率，二進制ABI模式中最高分辨率2048步/轉(zhuǎn)。

　　Oliver還表示，微分傳感技術(shù)可使設(shè)備不受雜散磁場的影響（見圖2），無需任何防護措施即可應(yīng)用在電嘈雜環(huán)境中。

　　圖2 微分傳感技術(shù)可使設(shè)備不受雜散磁場的影響。圖中下部為4個霍爾傳感器。

　　AS5047D采用14引腳TSSOP封裝，AS5147采用14引腳TSSOP封裝，AS5247采用7mmx7mm的MLF-40封裝。

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